1、ZEM系列扫描电镜

泽攸科技ZEM系列台式扫描电镜融合了多项自主创新核心技术，兼具优秀成像质量和便携性能，满足广泛应用需求。作为国内高端化、系列化的台式扫描电镜，ZEM系列在成像分辨率、操作便利性、系统集成度等指标上均达到了国际先进水平。

ZEM系列产品集成度高，配置灵活可选，操作方便，学习简单，非专业人士也可快速上手，配套软件贯穿整个工作流程，从样品导入、参数设置到成像分析，一站式高效便捷。目前，ZEM系列已在新材料、新能源、生物医药、半导体等诸多领域展现出强大的分析实力，帮助科研人员直观观测微纳世界奥秘。凭借出色的性价比，ZEM系列台扫已然成为高校、研究所和企业广泛采用的首选之一。

2、02JS系列台阶仪

泽攸科技JS系列台阶仪作为国产高精度表面测量设备的代表，凭借其创新的技术架构、灵活的应用场景及可靠的测量性能，可以对微纳结构进行膜厚和台阶高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量，在高校、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域有着广泛应用。

JS系列台阶仪通过金刚石探针与样品表面的接触扫描，将微观轮廓的垂直位移转化为电信号，结合高灵敏度传感器与信号处理算法，实现纳米级精度的表面特征捕捉。其核心技术亮点在于超微压力恒定控制系统，通过精密调节探针与样品间的接触压力，既避免了对软质材料的损伤，又确保了测量过程的稳定性。此外，设备搭载的摄像头实时成像系统，可同步观察样品区域与探针尖端的位置关系，辅助用户精确定位特征结构，显著提升测量效率。

作为国产科学仪器的突破性成果，JS系列台阶仪打破了国外品牌在高端表面测量设备领域的长期垄断，凭借高性价比与本地化服务优势，成为国内高校、科研机构及制造企业的优选设备。

3、扣电线&软包圆柱中试线设计建设&工夹具开发生产

泽攸科技ZEL304G电子束光刻机（EBL）是一款高性能、高精度的光刻设备，专为半导体晶圆的高速、高分辨率光刻需求设计。该系统采用先进的场发射电子枪，结合一体化的高速图形发生系统，确保光刻质量优异且效率卓越。标配的高精度激光干涉样品台能够满足大行程高精度拼接和套刻需求，为复杂实验和生产任务提供可靠支持。其核心优势在于卓越的成像能力和灵活的扫描模式，可实现多种矢量扫描方式，包括顺序扫描、循环扫描和螺旋型扫描，同时支持多图层自动曝光与场校准功能，满足多样化的工艺要求。此外，设备兼容多种图形文件格式，并可通过选配附件（如UPS不间断电源和主动减震台）进一步提升运行稳定性。无论是新材料研究、前沿物理探索，还是半导体、微电子、光子学及量子技术领域的应用，ZEL304G均表现出色，是科研与工程领域的理想选择。